M.V.Lomonosov Moscow State University
Faculty of Physics IPTM RAS
The Laboratory Diagnostic Microscopy and Microtomography

Rau E.I.
Full list of publications

    1. Лукьянов А.Е., Петров В.И., Рау Э.И., Седов Н.Н., Спивак Г.В. - Формирование изображения магнитных микрополей произвольного вида в ЗЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1968, 00, 06, 1005-1015, .43
    2. Гвоздовер Р.С., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Наблюдение пьезоэлектрических полей в стробоскопическом ЗЭМ Радиотехника и электроника, 1968, 00, 12, 2276-2278, .42
    3. Быков М.Б., Гвоздовер Р.С., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Электронная микроскопия периодических пьезоэлектрических полей Изв. АН СССР, сер. физич., 1970, 00, 07, 1483-1491, .46
    4. Гвоздовер Р.С., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Измерения магнитных полей методами электронной зеркальной микроскопии Изв. АН СССР, сер. физич., 1970, 00, 07, 1539-1547, .45
    5. Гвоздовер Р.С., Калашников С.Г., Карпова И.В., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Наблюдение рекомбинационных волн в германии в ЗЭМ Радиотехника и электроника, 1970, 00, 11, 2368-2371, .44
    6. Grosdover R.S., Lukyanov A.E., Rau E.I., Spivak G.V. - Electron Mirror Measurements of Magnetic Fields IEEE Transactions on Magnetic, 1971, 00, 00, 684-686, .88
    7. Grosdover R.S., Kalashnikov S.G., Karpova I.V., Lukyanov A.E., Rau E.I. - The Stroboscopic Mirror Electron Microscopy Observation of the Recombination Waves in Ge Phys. Stat. Sol. (a), 1971, 00, 05, .89
    8. Гвоздовер Р.С., Ждан А.Г., Петров В.И., Рау Э.И., Ченский Е.В. - Встречные сегнетоэлектрические домены в монокристаллах GaAs Письма в ЖЭТФ, 1971, 14, 00, 161-164, .64
    9. Быков М.Б., Лукьянов А.Е., Петров В.И., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Растровая электронная микроскопия диэлектриков Изв. АН СССР, сер. физич., 1972, 00, 06, 1312-1315, .48
    10. Лукьянов А.Е., Рау Э.И. - Электронно-оптические измерения динамических полей магнитных головок и полей сигналограмм Изв. АН СССР, сер. физич., 1972, 00, 06, 1327-1335, .53
    11. Дюков В.Г., Петров В.И., Рау Э.И. - Исследование некоторых электростатических коллекторов РЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1972, 00, 09, 1876-1879, .52
    12. Городский Д.Д., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Применение магнитного поля для сбора вторичных электронов из пористых образцов Изв. АН СССР, сер. физич., 1972, 00, 09, 1896-1900, .50
    13. Антошин М.К., Бартель И., Лукьянов А.Е., Лямов В.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Наблюдение распределения упругих волн в пьезоэлектриках в зеркальном и растровом электронных микроскопах Изв. АН СССР, сер. физич., 1972, 00, 09, 1954-1956, .65
    14. Гусев В.Н., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Измерение локальных магнитных полей в устройствах видеозаписи с помощью электронно-лучевых методов Изв. АН СССР, сер. физич., 1972, 00, 09, 1974-1977, .51
    15. Бочко Р.А., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Методика подготовки пористых материалов к исследованию в РЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1972, 00, 09, 2000-2004, .49
    16. Лукьянов А.Е., Петров В.И., Рау Э.И., Спивак Г.В. - О получении качественных изображений диэлектриков в РЭМ Радиотехника и электроника, 1972, 17, 110, 2237-2239, .47
    17. Дюков В.Г., Рау Э.И., Седов Н.Н., Спивак Г.В. - Выявление геометрического рельефа термоэмиттеров во вторичной эмиссии Изв. АН СССР, сер. физич., 1973, 00, 12, 2518-2522, .54
    18. Дюков В.Г., Рау Э.И. - Измерение потенциалов на интегральных схемах с помощью РЭМ Микроэлектроника, 1973, 02, 01, 18-23, .56
    19. Лукьянов А.Е., Петров В.И., Рау Э.И., Ушаков О.А. - Об оптической обработке электронно-оптических изображений микрополей Радиотехника и электроника, 1973, 00, 11, 2443-2445, .55
    20. Губенко А.Я., Лукьянов А.Е., Рау Э.И. - Исследование сплавных структур с помощью РЭМ Электронная техника сер.2, 1973, 00, 06, 77-81, .60
    21. Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Зеркальный и низковольтный режим работы РЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1974, 00, 07, 1406-1408, .57
    22. Гусев В.Н., Лукьянов А.Е., Рау Э.И. - Измерение частотно-фазовых и переходных характеристик локальных магнитных полей рассеяния Изв. АН СССР, сер. физич., 1974, 00, 07, 1417-1423, .59
    23. Глебов Г.М., Гусев Н.В., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Халецкий М.Б. - Исследование пространственно-временных особенностей полей рассеяния магнитопровода Изв. АН СССР, сер. физич., 1974, 00, 11, 1211-1218, .63
    24. Дюков В.Г., Рау Э.И., Соловьев А.А., Спивак Г.В. - Многоцелевая коллекторная система для РЭМ ПТЭ, 1974, 00, 05, 200-203, .61
    25. Лукьянов А.Е., Петров В.И., Рау Э.И. - Измерение электрических потенциалов в РЭМ при помощи простого коллектора Радиотехника и электроника, 1974, 00, 08, 1796-1798, .58
    26. Городский Д.Д., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - О формировании в РЭМ изображений глубоких отверстий Вестник МГУ. Сер.3. Физика. Астрономия., 1975, 00, 04, 423-429, .67
    27. Гвоздовер Р.С., Дюков В.Г., Петров В.И., Рау Э.И., Седунов Б.И. - Применение РЭМ для анализа отказов интегральных схем Микроэлектроника, 1975, 04, 01, 76-78, .62
    28. Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Электронно-микроскопическое устройство для измерения магнитных полей рассеяния ПТЭ, 1975, 00, 04, 209-212, .66
    29. Карелин Н.М., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Анализ микротопографии при помощи парносимметрического сцинтилляционного детектора в РЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1977, 00, 05, 922-927, .75
    30. Капличный В.Н., Карелин Н.М., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Электронно-микроскопический способ измерения и регистрации изолиний исследуемого параметра объекта Изв. АН СССР, сер. физич., 1977, 00, 05, 922-927, .77
    31. Иванников П.В., Рау Э.И. - Растровый теневой метод исследования магнитных полей рассеяния Изв. АН СССР, сер. физич., 1977, 00, 05, 928-932, .74
    32. Карелин Н.М., Мишустина И.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Растровая электронная микроскопия влажных, живых и замороженных объектов Изв. АН СССР, сер. физич., 1977, 00, 11, 2238-2251, .76
    33. Кан А.З., Петров В.И., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Воспроизведение информации и масштабные преобразования микрофильмов в РЭМ Радиотехника и электроника, 1977, 00, 07, 1525-1527, .70
    34. Голубков В.В., Назаров М.В., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Электронная микроскопия двумерных магнитных микрополей Радиотехника и электроника, 1977, 00, 11, 2365-2375, .72
    35. Карелин Н.М., Пожидаев В.Н., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Визуализация электрических эквипотенциалей и линий магнитной напряженности Радиотехника и электроника, 1977, 00, 11, 2437-2440, .71
    36. Иванов А.Э., Рау Э.И., Халецкий М.Б. - Поля рассеяния магнитных головок с уменьшенной рабочей поверхностью Радиотехника, 1977, 00, 09, 92-94, .68
    37. Ivannikov V.P., Lukyanov A.E., Rau E.I., Spivak G.V. - Development of SMEM for quantitative evaluation of microfields Journal de microscopie, 1978, 03, 00, 89-100, .90
    38. Карелин Н.М., Назаров М.В., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Методы измерения микропотенциалов в РЭМ Микроэлектроника, 1978, 7 в. 3, 00, 212-227, .73
    39. Рау Э.И., Спивак Г.В., Карелин Н.М. - Количественная регистрация микрополей в РЭМ ПТЭ, 1978, 00, 05, 224-226, .78
    40. Рау Э.И., Халецкий М.Б. - Анализ полей рассеяния магнитных головок Радиотехника, 1978, 00, 04, 35-39, .69
    41. Rau E.I., Spivak G.V. - Measurements of microfields on Semiconductors Phys. Stat. Sol. (a), 1979, 00, 02, 589-597, .92
    42. Rau E.I., Spivak G.V. - On the visualization and measurements of surface potentials in the SEM Scanning, 1979, 01, 00, 325-332, .91
    43. Rau E.I., Spivak G.V. - Scanning Electron Microscopy of Two-Dimensional Magnetic Stray Fields Scanning, 1980, 03, 01, 27-34, .93
    44. Rau E.I., Sasov A.Yu., Spivak G.V. - Colour Encoding of Video Signals in SEM Scanning, 1980, 03, 02, 242-248, .94
    45. Колесов В.В., Рау Э.И. - Измерение слабых СВЧ-сигналов с помощью электронного зонда Вестник МГУ. Сер.3. Физика. Астрономия., 1980, 21, 04, 80-82, .79
    46. Мишустина И.Е., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Исследование морских организмов в РЭМ Изв. АН СССР, сер. биолог., 1980, 00, 03, 395-401, .86
    47. Рау Э.И., Спивак Г.В. - Анализ ошибок измерений микропотенциалов в РЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1980, 44, 06, 1220-1225, .85
    48. Рау Э.И., Сасов А.Ю., Спивак Г.В. - Определение локальных характеристик p-n перехода методом наведенного потенциала в стробоскопическом режиме Изв. АН СССР, сер. физич., 1980, 44, 10, 2138-2144, .87
    49. Рау Э.И., Сасов А.Ю., Спивак Г.В. - Цветокодирование видеосигналов в РЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1980, 44, 16, 1138-1141, .84
    50. Рау Э.И., Сергеев Е.М., Спивак Г.В. - Возможности растровой электронной микроскопии при исследовании грунтов Инженерная геология, 1980, 00, 04, 92-102, .80
    51. Карелин Н.М., Литвинов Ю.М., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Исследование электрически активных дефектов в пластинках кремния с помощью РЭМ Микроэлектроника, 1980, 9 в. 1, 00, 48-53, .83
    52. Рау Э.И., Спивак Г.В., Текин В.В. - Электронно-зондовый метод исследования магнитных полей ПТЭ, 1980, 00, 04, 180-184, .81
    53. Алексеенко А.Г., Карелин Н.М., Рау Э.И., Спивак Г.В., Филиппов М.Н. - Растровая электронная микроскопия электрических неоднородностей в полупроводниках ФТП, 1980, 00, 10, 1934-1939, .82
    54. Рау Э.И., Сасов А.Ю., Спивак Г.В. - О контрасте и коррекции изображений в РЭМ при помощи восстанавливающего фильтра Радиотехника и электроника, 1981, 00, 03, 652-654, .95
    55. Dziesiaty J., Rau E.I., Sasov A.Yu., Spivak G.V., Wencel K. - Determination of local Parameters of p-n using the EBIV Mode of SEM Phys. Stat. Sol. (a), 1982, 00, 71, 429-440, .136
    56. Rau E.I., Sasov A.Yu., Sokolov V.N. - Special form scan for SEM based on microprocessor and its application Scanning, 1982, 00, 00, 17-27, .137
    57. Колтун М.М., Кузнецов Ю.М., Рау Э.И., Сасов А.Ю., Спивак Г.В. - Растровая электронная микроскопия кремниевых фотопреобразователей Поверхность, 1982, 00, 10, 70-79, .96
    58. Рау Э.И., Спивак Г.В., Филиппов М.Н. - Растровая электронная микроскопия объектов с пленочным покрытием Поверхность, 1982, 00, 12, 17-28, .97
    59. Рау Э.И., Спивак Г.В., Сасов А.Ю., Филиппов М.Н. - Пути повышения разрешения и контраста в электронной микроскопии Современная электронная микроскопия в исследовании вещества, 1982, 00, 00, 5-15, .122
    60. Rau E.I., Sasov A.Yu., Savin D.O., Spivak G.V. - An SEM-Minicomputer System to Study p-n Junctions under EBIC and EBIV Scanning, 1983, 05, 03, 123-128, .138
    61. Гостев А.В., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Получение и обработка изображений комплексом РЭМ-микроЭВМ при автоматической дефектоскопии интегральных микросхем Изв. АН СССР, сер. физич., 1983, 00, 00, 299-305, .103
    62. Рау Э.И., Савин Д.О., Сасов А.Ю., Спивак Г.В. - Изотропные развертки в электронно-зондовых приборах в системе обработки изображений Изв. АН СССР, сер. физич., 1983, 47, 06, 1103-1107, .100
    63. Картамышев М.Н., Рау Э.И., Филиппов М.Н., Чубаренко В.А. - Анализ отказов МДП ИС с помощью растровой оптической микроскопии Изв. АН СССР, сер. физич., 1983, 47, 06, 1108-1114, .101
    64. Перов А.В., Рау Э.И., Спивак Г.В., Чубаренко В.А. - Эксперименты по нестандартным методам и особым видам контраста в РЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1983, 47, 06, 1119-1126, .102
    65. Пентюш Э.В., Рау Э.И., Спивак Г.В., Филиппов М.Н. - Исследование локальных электрофизических характеристик кремниевых p-n переходов при вторичном пробое Микроэлектроника, 1983, 12, 02, 99-106, .99
    66. Рау Э.И., Сасов А.Ю., Спивак Г.В. - Цветокодированное отображение информации в РЭМ УФН, 1983, 139, 01, 165-168, .98
    67. Rau E.I., Sergeev Y.M., Sokolov V.N., Spivak G.V. - Quantitative morphological analysis in a SEM-minicomputer system Journal de microscopie, 1984, 135, 01, .139
    68. Рау Э.И., Савин Д.О., Спивак Г.В. - Микрозапись и воспроизведение информации электроннозондовыми сканирующими системами Изв. АН СССР, сер. физич., 1984, 48, 02, 306-310, .104
    69. Гостев А.В., Данилин Н.С., Картамышев М.Г., Рау Э.И., Савин Д.И. - Тестирование полупроводниковых структур электронно-зондовыми методами Изв. АН СССР, сер. физич., 1984, 48, 12, 2397-2403, .105
    70. Митрофанов А.В., Рау Э.И., Филиппов М.Н. - Применение РЭМ для исследования треков тяжелых ионов в пленках Изв. АН СССР, сер. физич., 1984, 48, 12, 2432-2436, .107
    71. Гостев А.В., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Спиральные развертки в РЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1984, 48, 12, 2447-2449, .106
    72. Меркулова С.П., Рау Э.И., Сердобольская С.Ю. - Наблюдение межфазовых границ в керамике в термоволновом изображении Письма в ЖТФ, 1985, 11 вып. 16, 00, 983-986, .108
    73. Антонюк В.П., Пытьев Ю.П., Рау Э.И. - Автоматизация визуального контроля изделий микроэлектроники Радиотехника и электроника, 1985, 30, 12, 2456-2458, .109
    74. Тихонов А.Н., Спивак Г.В., Рау Э.И., Гончарский А.В., Савин Д.О. - Вычислительная томография объектов в рентгеновской и оптической сканирующей микроскопии ДАН СССР, 1986, 289, 05, 1104-1107, .124
    75. Комолова Л.Ф., Никитин В.В., Рау Э.И. - Эффекты локальной самоактивации и гашения в некоторых катодолюминофорах Оптика и спектроскопия, 1986, 00, 06, 1186-1192, .112
    76. Венцель К., Дзизиати Ю., Рау Э.И., Спивак Г.В., Уразгильдин И.Ф., Чубаренко В.А. - Комплексное исследование в РЭМ локальных электрофизических параметров МДП-структур Поверхность, 1986, 00, 05, 114-129, .110
    77. Перов А.П., Рау Э.И., Чубаренко В.А., Юнович А.Э. - Зависимость наведенного тока от температуры и локальная спектроскопия примесных уровней методами растровой электронной микроскопии ФТП, 1986, 20 в 4, 00, 607-612, .111
    78. Рау Э.И., Савин Д.О., Спивак Г.В. - Реверсивная ускоренная микрозапись на сверхоптическом уровне и воспроизведение информации с помощью РЭМ Автометрия, 1987, 00, 02, 74-88, .113
    79. Бочикашвили П.Н., Гончарский А.В., Рау Э.И., Тихонов А.Н. - Микротомография слоистых сред в конусных пучках ДАН СССР, 1987, 296, 05, 1095-1097, .119
    80. Рау Э.И. - Растровая электронная термоакустическая микроскопия твердотельных структур Зав.лаб., 1987, 53, 10, 31-38, .120
    81. Антонюк В.В., Рау Э.И., Савин Д.О., Трифоненко В.П., Ягола А.Г. - Восстановление пространственного распределения двумерных микрополей методами РТВ Изв. АН СССР, сер. физич., 1987, 51, 03, 475-479, .115
    82. Гончарский А.В., Лихарев С.К., Рау Э.И., Савин Д.О., Спивак Г.В. - Микротомография объектов в растровой электронной микроскопии Изв. АН СССР, сер. физич., 1987, 51, 03, 480-483, .114
    83. Гостев А.В., Клейнфельд Ю.С., Рапопорт Б.М., Рау Э.И., Синкевич В.Ф. - Структурная неоднородность эпитаксиальных пленок арсенида галлия и электрофизические характеристики диодов Шоттки на их основе Микроэлектроника, 1987, 16 вып. 4, 00, 302-310, .116
    84. Гостев А.В., Клейнфельд Ю.С., Рау Э.И., Спивак Г.В. - Неразрушающий бесконтактный контроль кремниевых пластин и приборов на их основе с помощью индукционно-зарядовой ЭДС и РЭМ Микроэлектроника, 1987, 16 вып. 4, 00, 311-319, .117
    85. Гостев А.В., Клейнфельд Ю.С., Рау Э.И., Сурогина В.А. - Визуализация приповерхностных материалов методом электронной индукционно-зарядовой ЭДС Поверхность, 1987, 00, 05, 73-81, .118
    86. Rau E.I. - SEM tomography: Solid-State Media and Microfields Scanning, 1988, 10, 00, 191-196, .140
    87. Rau E.I. - Microrecording and Information reproduction with SEM Scanning, 1988, 10, 00, 207-209, .141
    88. Гуляев Ю.В., Кулаков М.А., Морозов А.И., Рау Э.И. - Исследование полупроводниковых структур методами акустической и электронной термоакустической микроскопии ДАН СССР, 1988, 301, 04, 849-851, .126
    89. Бочикашвили П.Н., Рау Э.И., Савин Д.О. - Лазероскан на базе комплекса РЭМ-ЭВМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1988, 52, 07, 1278-1283, .123
    90. Медзмариашвили П.А., Никитин А.Ю., Рау Э.И. - Измерение рельефа поверхности сканирующим емкостным микроскопом Изв. АН СССР, сер. физич., 1988, 522, 07, 1354-1357, .125
    91. Гостев А.В., Приведенцев В.В., Рау Э.И., Щетинин А.Г. - Визуализация потенциального поля при возникновении рекомбинационных волн в кремнии ФТП, 1988, 22, 08, 1516-1519, .121
    92. Лихарев С.К., Рау Э.И., Трифоненков В.П., Ягола А.Г. - Микротомография полупроводниковых структур в режиме наведенного тока». ДАН СССР, 1989, 307, 04, 840-845, .127
    93. Бочикашвили П.Н., Гончарский А.В., Матвиенко А.Н., Рау Э.И., Савин Д.О. - Неразрушающий контроль многослойных структур с помощью рентгеновского излучения Дефектоскопия, 1989, 00, 07, 42-49, .128
    94. Bondarenko I.E., Likharev S.K., Rau E.I., Yakimov E.B. - Microtomography of Semicondactor Crystals in the EBIC mode J. of Crystal Growth, 1990, 103, 00, 197-199, .143
    95. Aristov V.V., Kononchuk O.V., Rau E.I., Yakimov E.B. - SEM Investigation of semiconductors by the capacitance techniques Microelectronic Enqineering, 1990, 00, 02, 179-185, .142
    96. Рау Э.И. - Физико-технические аспекты многофункционального диагностического интроскопа-микротомографа Изв. АН СССР, сер. физич., 1990, 54, 02, 203-207, .134
    97. Лихарев С.К., Рау Э.И. - Перспективы развития электронно-зондовой термоакустической микротомографии Изв. АН СССР, сер. физич., 1990, 54, 02, 255-258, .133
    98. Никитин А.Ю., Рау Э.И., Седов Н.Н., Ушаков Н.Г. - Исследование геометрии объекта и распределения потенциала на нем в растрово-зеркальном микроскопе Изв. АН СССР, сер. физич., 1990, 54, 02, 312-317, .135
    99. Картамышев М.Г., Невзоров А.Н., Обухов А.Л., Рау Э.И. - Влияние электронного облучения на характеристики МОП-структур при исследовании в РЭМ Микроэлектроника, 1990, 19, 01, 22-30, .129
    100. Аристов В.В., Дремова Н.Н., Лихарев С.К., Рау Э.И. - Физические основы трехмерного нерузрушающего метода исследования многослойных структур в отраженных электронах РЭМ Электронная промышленность, 1990, 00, 02, 26-28, .130
    101. Гостев А.В., Рау Э.И. - Оптимизация коллектора-энергоанализатора РЭМ и метода измерения потенциального рельефа твердотельных структур Электронная промышленность, 1990, 00, 02, 28-30, .131
    102. Бочикашвили П.Н., Рау Э.И., Тимонов А.А. - Рентгеновская и инфракрасная сканирующая интроскопия и томография Электронная промышленность, 1990, 00, 02, 37-39, .132
    103. Aksenov L., Aristov V.V., Frolov K., Rau E.I. - Infrared Introscopy and Microtomography of Semiconductor Structures Proc. SPIE, 1991, 1843, 00, 288-298, .154
    104. Рау Э.И., Фролов К.К. - Лазерная сканирующая микроскопия и томография в рассеянном свете Изв. АН СССР, сер. физич., 1991, 55, 08, 1623-1626, .144
    105. Nazarova T., Nazarov M., Rau E.I., Saparin G. - Scanning microscopy of intented MgO crystals Scanning, 1992, 14, 00, 91-99, .155
    106. Обухов А.Л., Райт Г., Рау Э.И. - Сравнение методов индуцированной поверхностной ЭДС и растровой электронной термоакустической микроскопии полупроводников Изв. АН СССР, сер. физич., 1992, 56, 03, 170-175, .146
    107. Аксенов Л.В., Аристов В.В., Рау Э.И., Фролов К.К. - Интроскопия и микротомография полупроводниковых структур в инфракрасном излучении Изв. АН СССР, сер. физич., 1992, 56, 03, 83-89, .145
    108. Абдурахимов Д.Е., Бочикашвили П.Н., Калинушкин В.Д., Обухов А.Л., Райзер М.Д., Рау Э.И. - Воздействие электромагнитных СВЧ-импульсов на структуру примесных неоднородностей в кристаллах кремния и характеристики полупроводниковых элементов Микроэлектроника, 1992, 21, 01, 82-89, .147
    109. Андрианов М.В., Аристов В.В., Рау Э.И. - Возможности и перспективы сканирующего сенсорного зонда-мультискана Изв. АН СССР, сер. физич., 1993, 57, 08, 2-8, .148
    110. Дремова Н.Н., Зайцев С.И., Рау Э.И., Якимов Е.Б. - Характеризация многослойных микроструктур и рельефа поверхности в обратно рассеянных электронах в РЭМ Изв. АН СССР, сер. физич., 1993, 57, 08, 9-14, .149
    111. Aristov V.V., Rau E.I., Yakimov E.B. - SEM characterization of multilayers. Microscopy of semiconducting materials. Inst. Phys. Conf. Ser., 1995, 00, 146, 675-680, .175
    112. Aristov V.V., Rau E.I., Yakimov E.B. - Apparatus electron beam microtomography in SEM Phys. Stat. Sol. (a), 1995, 150, 00, 211-219, .156
    113. Дремова Н.Н., Матвиенко А.Н., Рау Э.И., Савин В.О., Савин Д.О. - Контраст изображений и спектроскопия слоистых микроструктур в отраженных электронах Изв. АН СССР, сер. физич., 1995, 59, 02, 87-94, .151
    114. Дремова Н.Н., Рау Э.И., Робинсов Н.В. - Контраст изображений и спектроскопия слоистых микроструктур в отраженных электронах Изв. АН СССР, сер. физич., 1995, 59, 02, 87-94, .152
    115. Дремова Н.Н., Рау Э.И., Ху Веньго - Энергетический анализ обратнорассеянных электронов в РЭМ для исследования многослойных микроструктур Поверхность, 1995, 00, 01, 45-51, .150
    116. Дремова Н.Н., Рау Э.И., Робинсов Н.В. - Энергетические анализаторы электронов для РЭМ ПТЭ, 1995, 00, 01, 27-33, .153
    117. Aristov V.V., Rau E.I., Yakimov E.B. - SEM characterization of multilayers Inst. Phys. Conf. Ser., 1996, 00, 146, 675-680, .174
    118. Rau E.I., Yakimov E.B. - E-beam tomography of planar semiconductor structures Materials Science and Engineering, 1996, 42, 00, 52-56, .162
    119. Rau E.I., Robinson V.N.E. - An Annular Toroidal Backscattered Electron Energy Analyzer for Use in Scanning Electron Microscopy Scanning, 1996, 18, 00, 556-561, .157
    120. Аристов В.В., Дремова Н.Н., Рау Э.И. - Характеристики, особенности и примеры применения тороидального энергоанализатора в растровой электронной микроскопии ЖТФ, 1996, 66, 10, 78-86, .163
    121. Дремова Н.Н., Рау Э.И., Якимов Е.Б. - Некоторые аспекты профилометрии в РЭМ в режиме обратноотраженных электронов Изв. РАН, сер. физич., 1996, 60, 02, 101-104, .159
    122. Седов Н.Н., Рау Э.И., Савин В.О. - Расчеты влияния микрополей на детектировании потенциального контраста Изв. РАН, сер. физич., 1996, 60, 02, 65-71, .161
    123. Дремова Н.Н., Зайцев С.И., Конончук О.В., Рау Э.И., Ушаков Н.Г., Якимов Е.Б. - Новые принципы создания полупроводникового энергочувствительного детектора обратноотраженных электронов Изв. РАН, сер. физич., 1996, 60, 02, 72-76, .158
    124. Пахомова И.Ю., Рау Э.И., Савин В.О., Суворинов А.В. - Аксиально-симметричный бессеточный коллектор – анализатор вторичных электронов на основе детектора Робинсона Изв. РАН, сер. физич., 1996, 60, 02, 96-100, .160
    125. Аристов В.В., Гвоздовер Р.С., Гостев А.В., Рау Э.И., Савин В.О. - Развитие и новые применения модуляционных методов микротомографии в растровой электронной микроскопии Изв. РАН, сер. физич., 1997, 61, 10, 1959-1965, .164
    126. Гостев А.В., Дремова Н.Н., Рау Э.И., Савин В.О., Седов Н.Н. - Усовершенствование спектрометра обратнорассеянных электронов в РЭМ Изв. РАН, сер. физич., 1997, 61, 10, 1966-1971, .165
    127. Rau E.I., Zhukov A.N., Yakimov E.B. - Contactless mapping of electrical properties inhomogeneities by the surface electron beam induced voltage method Inst. Phys. Conf. Ser., 1998, 00, 160, 75-78 , .166
    128. Niedrig H., Rau E.I. - Information depth and spatial resolution in BSE microtomography in SEM Nucl. Instr. Meth. in Phys. Res. (B), 1998, 142, 00, 523-534, .168
    129. Rau E.I., Zhukov A.N., Yakimov E.B. - Application of Surface Electron Beam Induced Voltage Method for the Contactless Characterization of Semiconductor Structures Solid State Phenomena. Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors, 1998, 63-64, 00, 327-332, .167
    130. Гостев А.В., Матвиенко А.Н., Рау Э.И., Савин В.О., Савин Д.О. - К вопросу об информационной глубине режима обратноотраженных электронов в РЭМ Изв. РАН, сер. физич., 1998, 62, 03, 591-598, .169
    131. Гостев А.В., Жуков А.Н., Молл Ш.Х., Рау Э.И., Якимов Е.Б. - Анализ информации, получаемой методом электронно-индуцированной ЭДС в РЭМ Изв. РАН, сер. физич., 1998, 62, 03, 599-605, .170
    132. Rau E.I., Zhu Shiqiu, Yakimov E.B. - Contactless characterization of semiconductor structures by the surface Electron Beam Induced Voltage method Inst. Phys. Conf. Ser., 1999, 00, 162, 151-154, .172
    133. Berger D., Filippov M.N., Niedrig H., Rau E.I., Schlichting F. - Experimental determination of energy and transmission characteristics of an electrostatic toroidal spectrometer adapted to a standard SEM J. El. Spectr. Rel. Phenom., 1999, 105, 00, 119-127, .171
    134. Пахомова И.Ю., Рау Э.И., Рябова Г.В., Суворинов А.В. - Оценка ограничений РЭМ-отображения потенциалов интегральных схем в присутствии возвратных микрополей объекта Изв. РАН, сер. физич., 1999, 63, 07, 1318-1324, .173
    135. Бирченко Р.Н., Рау Э.И., Филиппов М.Н. - Исследование эффективности сцинтилляционных детекторов обратнорассеяных электронов в РЭМ Вестник МГУ. Сер.3. Физика. Астрономия., 2000, 00, 02, 28-31, .13
    136. Гостев А.В., Рау Э.И., Шичу Чжу, Якимов Е.Б. - О возможности измерения локальных параметров полупроводниковых материалов методом электронно-индуцированной ЭДС Изв. РАН, сер. физич., 2000, 00, 08, 1580-1585, .9
    137. Рау Э.И., Савин В.О., Сеннов Р.А., Фрейнкман Б.Г., Хоффмайстер Х. - Исследование электронно-оптических характеристик тороидального спектрометра Изв. РАН, сер. физич., 2000, 64, 08, 1586-1590, .3
    138. Рау Э.И., Савин В.О., Сеннов Р.А., Филиппов М.Н., Ху Веньго - Экспериментальное определение трансмиссионных характеристик и энергетического разрешения тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа Поверхность, 2000, 00, 02, 10-21, .12
    139. Рау Э.И., Седов Н.Н., Ху Веньго, Шичу Чжу - Методические аспекты режима поверхностной электронно-индуцированной ЭДС в растровой электронной микроскопии Поверхность, 2000, 00, 02, 4-9, .11
    140. Дицман С.А., Мельник В.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Соколов В.Н., Юрковец Д.И. - Стереомикротомография - новый способ изучения трехмерных микроструктур в РЭМ Поверхность, 2000, 00, 12, 13-15, .10
    141. Рау Э.И., Савин В.О., Сеннов Р.А. - Пространственное разрешение, информационная глубина и контраст изображений подповерхностных структур, визуализируемых в отраженных электронах в РЭМ Поверхность, 2000, 00, 12, 4-8, .8
    142. Андрианов М.В., Гостев А.В., Рау Э.И., Казо Ж., Жбара О., Белхаи М. - Электронная спектроскопия диэлектриков в РЭМ Поверхность, 2000, 00, 12, 9-12, .6
    143. Belhaj M., Jbara O., Cazaux J., Rau E.I., Andrianov M.V. - An anomalous contrast effect in scanning electron microscopy of insulators: The pseudo-mirror effect EUREM-2000 2000, 2000, 03, 00, 237-238, .196
    144. Rau E.I., Sennov R.A., Sokolov V.N., Yurcovets D.I., Melnik V.N., Boyde A., Howell P.G.T. - Backscattered Electron Stereophotogrammetry based on the BSE-Microtomography in the SEM EUREM-2000 2000, 2000, 03, 00, I393-I394, .230
    145. Xiao Ling, Li Yawen, Rau E.I., Hu Wenguo - A new method for nondestructive internal microtomography of semiconductors and IC International Kunming Symposium on Microscopy 2000, 2000, 00, 00, 25-26, .194
    146. Zhu Shiqiu, Rau E.I., Hu Wenguo - Study of semiconductors by surface electron beam exciting potential in SEM International Kunming Symposium on Microscopy 2000, 2000, 00, 00, 29-30, .195
    147. Гостев А.В., Рау Э.И., Шичу Чжу - Измерение параметров полупроводников метедом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в РЭМ РЭМ-2000 2000, 2000, 00, 00, 102-103, .192
    148. Еременко В.Г., Рау Э.И. - Изучение морфологии и электрической активности протяженных дефектов нового типа в Si методом электронно-индуцированной ЭДС в РЭМ РЭМ-2000 2000, 2000, 00, 00, 110, .193
    149. Андрианов М.В., Бигулаев Д.В., Гвоздовер Р.С., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Филиппов М.Н. - Энергия и спектры обратнорассеяных электронов на массивных объектах РЭМ-2000 2000, 2000, 00, 00, 85, .191
    150. Belhaj M., Jbara O., Filippov M.N., Rau E.I., Andrianov M.V. - Analysis of two methods of measurement of surface potential of insulators in SEM: electron spectroscopy and X-ray spectroscopy methods Appl. Surf. Sci., 2001, 177, 00, 58-65, .23
    151. Jbara O., Belhaj M., Odof S., Msellak K., Rau E.I., Andrianov M.V. - Surface potential measurements of electron-irradiated insulators using backscattered and secondary electron spectra from an electrostatic toroidal spectrometer adapted for scanning electron microscope applications Rev. Sci. Instr., 2001, 72, 03, 1788-1795, .22
    152. Rau E.I., Reimer L. - Fundamental problems of Imaging Subsurface Structures in the Backscattered Electron Mode in Scanning Electron Microscopy Scanning, 2001, 23, 04, 235-240, .21
    153. Filippov M.N., Rau E.I., Sennov R.A., Boyde A., Howell P.G.T. - Light Collection Efficiency and Light Transport in Backscattered Electron Scintillator Detectors in SEM Scanning, 2001, 23, 05, 305-312, .20
    154. Belhaj M., Jbara O., Ziane D., Rau E.I., Andrianov M.V., Filippov M.N. - “Study of charging dynamics in electron irradiated Al2O3 by means of the displacement current Surface Science, 2001, 00, 00, .24
    155. Гостев А.В., Кхуршид А., Остерберг М., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Анализ экспериментальных и расчётных характеристик электростатического тороидального спектрометра отражённых электронов в РЭМ Изв. РАН, сер. физич., 2001, 65, 09, 1295-1299, .15
    156. Рау Э.И., Гостев А.В., Шичу Чжу - Определение диффузионной длины и скорости поверхностной рекомбинации неравновесных носителей заряда в полупроводниках методами наведенного тока и электронно-индуцированного потенциала Изв. РАН, сер. физич., 2001, 65, 09, 1300-1304, .16
    157. Рау Э.И., Сеннов Р.А., Реймер Л., Хоффмайстер Х. - Оценки локальных толщин плёнок в многослойных структурах по спектрам отражённых электронов в РЭМ Изв. РАН, сер. физич., 2001, 65, 09, 1328-1331, .17
    158. Рау Э.И., Гостев А.В., Шичу Чжу, Пханг Дж., Чан Д. - Сравнительный анализ методов растровой электронной микроскопии полупроводников: электронно-индуцированного потенциала, одноконтактного наведённого тока, термоакустического детектирования Микроэлектроника, 2001, 30, 04, 243-256, .19
    159. Андрианов М.В., Белхаи М., Жбара О., Рау Э.И., Филиппов М.Н. - Растровая электронная микроскопия, электронная и рентгеновская спектроскопия диэлектриков Поверхность, 2001, 00, 08, 24-35, .14
    160. Рау Э.И., Шичу Чжу - Бесконтактный электронно-зондовый метод измерения диффузионной длины и времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках ФТП, 2001, 35, 06, 749-752, .18
    161. Rau E.I., Yakimov E.B. - Determination of diffusion length and surface recombination velocity by the surface EBIV method DRIP-IX 2001, 2001, 00, 00, 2-25, .200
    162. Rau E.I., Wernisch J. - Correlation between BSE energy and X-ray spectra of multilayered microelectronics structures DRIP-IX 2001, 2001, 00, 00, 41-50, .201
    163. Рау Э.И., Зайцев С.И., Савин В.О., Седов Н.Н., Бойд А., Ховелл П. - Ограничения метода электронной стерео-микротомографии и вопросы нормирования спектров отражённых электронов РЭМ-2001 2001, 2001, 00, 00, 155, .199
    164. Андрианов М.В., Белхаи М., Жбара О., Рау Э.И., Филиппов М.Н. - Исследование кинетики зарядки диэлектриков и релаксации зарядов методами электронной микроскопии РЭМ-2001 2001, 2001, 00, 00, 24, .197
    165. Гостев А.В., Рау Э.И., Шичу Чжу, Якимов Е.Б. - Определение диффузионной длины и скорости поверхностной рекомбинации неравновесных носителей заряда в полупроводниках методом электронно-индуцированного потенциала РЭМ-2001 2001, 2001, 00, 00, 91, .198
    166. Rau E.I., Zhu Shiqiu, Fuhua Y. - A new method for quantitative determination of semiconductor parameters in EBIC and SEBIV modes of SEM Chi. Phys. Lett., 2002, 19, 09, 1329-1334, .178
    167. Rau E.I., Hoffmeister H., Sennov R.A., Kohl H. - Comparison of experimental and Monte-Carlo simulated BSE spectra of multilayered structures and «in-depth» measurements in a SEM. J. Phys. D: Appl. Phys., 2002, 35, 12, 1433-1437, .37
    168. Jbara O., Fakhfakh S., Belhaj M., Cazaux J., Rau E.I., Filippov M.N., Andrianov M.V. - A new experimental approach for characterizing the internal trapped charge and electric field build up in ground-coated insulators during their e-irradiation Nucl. Instr. Meth. in Phys. Res. (B), 2002, 194, 00, 302-310, .177
    169. Rau E.I., Khursheed A., Gostev A.V., Osterberg M. - Improvements to the design of an electrostatic toroidal backscattered electron spectrometer for the scanning electron microscope Rev. Sci. Instr., 2002, 73, 01, 227-229, .176
    170. Дорофеев К.Ю., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Ягола А.Г. - О возможности катодолюминесцентной микротомографии Вестник МГУ. Сер.3. Физика. Астрономия., 2002, 00, 02, 73-75, .40
    171. Андрианов М.В., Рау Э.И., Седов Н.Н. - К вопросу о контрасте изображений диэлектрических структур в РЭМ Изв. РАН, сер. физич., 2002, 66, 09, 1324-1329, .179
    172. Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Анализ кинетики сигналов в методах наведенного тока, тока смещения и электронно-индуцированного потенциала в РЭМ Изв. РАН, сер. физич., 2002, 66, 09, 1352-1355, .41
    173. Еременко В.Г., Рау Э.И. - Изучение электрической активности протяженных дефектов нового типа в Si методом оптической интерференционной микроскопии и электронно-индуцированной ЭДС в РЭМ Изв. РАН, сер. физич., 2002, 66, 09, 1354-1357, .180
    174. Рау Э.И., Сеннов Р.А., Шичу Чжу, Якимов Е.Б. - Развитие электроннозондового метода определения диффузионной длины и скорости поверхностной рекомбинации неосновных носителей заряда в полупроводниках Поверхность, 2002, 00, 10, 78-84, .38
    175. Рау Э.И., Сеннов Р.А., Дорофеев К.Ю., Лиу Ю., Пханг Дж.,Чан Д. - Основные принципы катодолюминесцентной микротомографии с использованием конфокальной зеркальной оптики Поверхность, 2002, 00, 10, 85-92, .39
    176. Андрианов М.В., Гостев А.В., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Микротомография и спектроскопия слоистых структур в отраженных электронах в РЭМ ПЛЕНКИ-2002 2002, 2002, 00, 00, .231
    177. Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Расчет геометрических параметров и фокусирующих свойств эллипсоидального оптического зеркала для КЛ-микроскопии РЭМ-2002 2002, 2002, 00, 00, 106, .234
    178. Бельский М.Д., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Филипчук Т.С., Фрейнкман Б.Г. - Кольцевая фокусировка электронов на вход встроенного в РЭМ тороидального спектрометра РЭМ-2002 2002, 2002, 00, 00, 59, .232
    179. Гостев А.В., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Сравнение информативных сигналов в методах электронно-индуцированного потенциала и одноконтактного наведенного тока РЭМ-2002 2002, 2002, 00, 00, 78, .233
    180. Zhu S., Rau E.I., Yang F.H. - A novel method of determining semiconductor parameters in EBIC and SEBIV modes of SEM Semiconductor Sci. Technol., 2003, 18, 04, 361-366, .25
    181. Бельский М.Д., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Филипчук Т.С., Шахбазов С.Ю. - Повышение чувствительности встроенного в РЭМ тороидального спектрометра с электростатической входной фокусировкой Изв. РАН, сер. физич., 2003, 67, 04, 583-585, .27
    182. Гостев А.В., Корнилов Б.В., Привезенцев В.В., Рау Э.И. - Статический домен сильного поля у порога возбуждения рекомбинационных волн в Si Микроэлектроника, 2003, 32, 05, 359-362, .26
    183. Rau E.I., Sennov R.A. - A new method for determination of semiconductor parameters in SEM BIAMS-2003 2003, 2003, 00, 00, 240, .202
    184. Рау Э.И., Сеннов Р.А., Францкевич А.В., Мазаник А.В., Федотов А.К. - Исследование методом ПЭИП в РЭМ имплантированных водородов пластин кремния после оксидирования поверхности и вакуумного отжига РЭМ-2003 2003, 2003, 00, 00, 106-107, .204
    185. Андрианов М.В., Гостев А.В., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Определение средней энергии электронов, отраженных от однородных, от слоистых и от диэлектрических мишеней РЭМ-2003 2003, 2003, 00, 00, 4, .203
    186. Бельский М.Д., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Филипчук Т.С., Шахбазов С.Ю. - Оптимизация системы входной фокусировки в тороидальном спектрометре для растровой электронной микроскопии РЭМ-2003 2003, 2003, 00, 00, 5, .235
    187. Chan D.S., Liu Y., Phang J., Rau E.I., Sennov R.A., Gostev A.V. - Microtomography and improved resolution in cathodoluminescence microscopy using confocal mirror optics. Rev. Sci. Instr., 2004, 75, 10, 3191-3199, .28
    188. Franzkevich A.V., Mazanik A.V., Fedotov A.K., Rau E.I. - Gettering of oxygen onto Bured Defect Layer in Hydrogen Implanted Silicon Wafers after Low Temperature Surface Saturation by oxygen and vacuum Annelealing. Sol.Stat.Phenom., 2004, 95-96, 00, 571-576, .29
    189. Wong W.K., Rau E.I., Thong J.T. - Electron-acoustic and surface electron beam induced voltage signal formation in scanning electron microscopy analysis of semiconductors samples Ultramicroscopy, 2004, 101, 00, 183-195, .30
    190. Аристов В.В., Гостев А.В., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - О пространственном разрешении и контрасте изображений в катодолюминесцентной микротомографии при использовании эллипсоидального конфокального коллектора оптического излучения. Изв. РАН, сер. физич., 2004, 68, 09, 1312-1320, .33
    191. Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Определение средней энергии электронов, отраженных от однородных, от слоистых и от диэлектрических мишеней. Изв. РАН, сер. физич., 2004, 68, 09, 1342-1347, .34
    192. Бузынин Ю.Н., Беляев А.В., Бузынин А.Н., Рау Э.И., Лукьянов А.Е. - Электрически активные дефекты слоев GaAs, InGaAs на подложках монолитного и пористого GaAs. Изв. РАН, сер. физич., 2004, 68, 09, 1370-1373, .35
    193. Андрианов М.В., Аристов В.В., Гостев А.В., Рау Э.И. - Исследование эффектов зарядки диэлектриков в растровом электронном микроскопе. Поверхность, 2004, 00, 03, 40-51, .31
    194. Францкевич А.В., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Федотов А.К., Мазаник А.В. - Геттерирование кислорода на захороненный дефектный слой, созданный имплантацией водорода. Поверхность, 2004, 00, 03, 52-56, .32
    195. Rau E.I., Sennov R.A., Gostev A.V. - Determination of the mean and most probably energy of electrons backscattered from bulk and multilayered media EMC-2004 2004, 2004, 02, 00, 205-206, .237
    196. Rau E.I., Sennov R.A., Chan D., Phang J. - The main principles of improved spatial resolution cathodoluminescence microscopy and microtomography using elliptical mirror optics EMC-2004 2004, 2004, 02, 00, 78-79, .236
    197. Андрианов М.В., Гостев А.В., Николаев И.С., Обыдена С.С., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Смородин А.А. - Эффекты зарядки и контаминации на непроводящих образцах при их исследовании в РЭМ РЭМ-2004 2004, 2004, 00, 00, 68, .205
    198. Бузынин Ю.Н., Беляев А.В., Бузынин А.Н., Лукьянов А.Е., Рау Э.И. - Исследование морфологических структурных и электрических неоднородностей низкоразмерных структур InGaAs на подложках монолитного и пористрого GaAs РЭМ-2004 2004, 2004, 00, 00, 76, .207
    199. Murzina T.V., Sychev F.Yu., Kim E.M., Rau E.I., Obydena S.S., Aktsipetrov O.A., Bader M.A., Marowsky G. - One-dimensional photonic crystals based on porous n-type silicon J. Appl. Phys., 2005, 98, 01, 123702, .182
    200. Frantskevich A.V., Fedotov A.K., Mazanik A.V., Rau E.I., Kulikauskas V.S. - Formation of buried isulating island-like SiO2 layer in silicon Materials Science and Engineering, 2005, 124-125, 00, 341-344, .183
    201. Бельский М.Д., Рау Э.И., Суворинов Т.С., Филипчук Т.С. - Влияние входной фокусировки на характеристики тороидального энергоанализатора для РЭМ Поверхность, 2005, 00, 12, 47-51, .181
    202. Belhaj M., Jbara O., Odof S., Msellak K., Rau E.I., Andrianov M.V. - An anomalous contrast in the scanning electron microscopy of insulators: The pseudo-mirror effect Scanning, 2006, 00, 08, 352-356, .7
    203. Гостев А.В., Дицман С.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Модуляционный принцип детектирования электронов в ОРЭ-томографии РЭМ-2006 2006, 2006, 00, 00, 89, .214
    204. Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - О контрасте изображений подповерхностных микроструктур в РЕМ РЭМ-2006 2006, 2006, 00, 00, 96, .238
    205. Еременко В.Г., Рау Э.И., Якимов Е.Б. - РЭМ и оптическая микроскопия протяженных дефектов в плоскости скольжения дислокации в кремнии РЭМ-2006 2006, 2006, 00, 00, 97, .215
    206. Dapor M., Rau E.I., Sennov R.A. - Experimental and computational study of the mean energy of electrons backscattered from surface films J. Appl. Phys., 2007, 102, 00, 063705, .185
    207. Buzynin A.N., Belyaev A.V., Lukyanov A.E., Rau E.I. - Growth and defects of GaAs and InGaAs films on porous GaAs substrates Thin Solid Films, 2007, 515, 10, 4445-4449, .184
    208. Андрианов М.В., Рау Э.И. - Эффект контаминации поверхности диэлектрических мишеней при электронном облучении Зав.лаб., 2007, 73, 08, 41-44, .186
    209. Евстафьева Е.Н., Дицман С.А., Рау Э.И., Чукичев М.В. - Электронная эмиссия и зарядка природного алмаза при его облучении электронами средних энергий Изв. РАН, сер. физич., 2007, 71, 10, 1460-1463, .187
    210. Евстафьева Е.Н., Рау Э.И. - Исследование эффектов зарядки массивных диэлектрических мишеней под воздействием электронных пучков средних энергий РСНЭ-2007 2007, 2007, 00, 00, 509, .219
    211. Рау Э.И., Лукьянов Ф.А., Сеннов Р.А. - Средняя и наиболее вероятная энергия электронов, отраженных от однородных и от пленочных микроструктур РСНЭ-2007 2007, 2007, 00, 00, 544, .220
    212. Гостев А.В., Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Некоторые аспекты исследования электрически непроводящих объектов электронно-зондовыми методами РЭМ-2007 2007, 2007, 00, 00, 149-150, .189
    213. Дицман С.А., Костин Ю.О., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Сравнительный анализ информационной глубины, разрешения и контраста изображений подповерхностных структурных микронеоднородностей во вторичных и отраженных электронах в РЭМ РЭМ-2007 2007, 2007, 00, 00, 236-237, .239
    214. Бузынин Ю.Н., Дроздов М.Н., Дроздов Ю.Н., Лукьянов А.Ю., Хрыкин О.И., Бузынин А.Н., Лукьянов А.Е., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И. - Эпитаксиальные пленки GaN на подложках Si и GaAs с новыми буферными слоями на основе пористого материала РЭМ-2007 2007, 2007, 00, 00, 72-73, .188
    215. Rau E.I. - The effect of contamination of dielectric target surfaces under electron irradiation Appl. Surf. Sci., 2008, 254, 07, 2110-2113, .190
    216. Fakhfakh S., Jbara O., Rau E.I., Fakhfakh Z. - An experimental approach for measuring surface potential and second crossover energy in insulator J. Phys. D: Appl. Phys., 2008, 41, 10, 105402, .217
    217. Rau E.I., Fakhfakh S., Andrianov M.V., Evstafjeva E.N., Jbara O., Rondot S. - Second crossover energy of insulating materials using stationary electron beam under normal incidence Nucl. Instr. Meth. in Phys. Res. (B), 2008, 266, 00, 719-729, .218
    218. Гостев А.В., Дицман С.А., Забродский В.В., Забродская Н.В., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Суханов В.Л. - Характеризация полупроводниковых детекторов монокинетических и отраженных электронов с энергией 1-30 кэВ Изв. РАН, сер. физич., 2008, 72, 11, 1539-1544, .225
    219. Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Некоторые аспекты кинетики зарядки диэлектрических мишеней электронными пучками с энергией 1-50 кэВ Изв. РАН, сер. физич., 2008, 72, 11, 1577-1582, .226
    220. Бузынин Ю.Н., Дроздов Ю.Н., Дроздов М.Н., Лукьянов А.Ю., Хрыкин О.И., Бузынин А.Н., Лукьянов А.Е., Рау Э.И., Лукьянов Ф.А. - Гетероэпитаксиальные пленки GaN на подложках кремния с буферными слоями на основе пористого материала Изв. РАН, сер. физич., 2008, 72, 11, 1583–1587, .252
    221. Рау Э.И., Евстафьева Е.Н.,Андрианов М.В. - Механизм зарядки диэлектриков при их облучении электронными пучками средних энергий ФТТ, 2008, 50, 04, 599, .285
    222. Rau E.I., Ditsman S.A., Lukyanov F.A., Sennov R.A. - Response function of the semiconductor detector of backscattered electrons in SEM EMC-2008 2008, 2008, 01, 00, 603-604, .222
    223. Rau E.I. - Main principles of microtomography using backscattered electrons EMC-2008 2008, 2008, 01, 00, 605-606, .223
    224. Rau E.I., Evstafjeva E.N., Sennov R.A., Plies E. - Considerations of some charging effects on dielectrics by electron beam irradiation EMC-2008 2008, 2008, 01, 00, 607-608, .224
    225. Евстафьева Е.Н., Милеев В.Н., Новиков Л.С., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Исследование процесса зарядки диэлектрических материалов электронными пучками с энергией 1-50 кэВ IX межвузовская научная школа молодых специалистов 2008, 2008, 00, 00, 15-21, .241
    226. Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - К вопросу о кинетике зарядки диэлектриков электронными пучками средних энергий ДИЭЛЕКТРИКИ-2008 2008, 2008, 00, 00, 49, .221
    227. Гостев А.В., Евстафьева Е.Н., Купцов А.В., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Особенности кинетики зарядки диэлектриков электронными пучками с энергией 1-30 кэВ РЭМ-2008 2008, 2008, 00, 00, 121, .210
    228. Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - К вопросу о пространственном разрешении в режиме отраженных электронов в РЭМ РЭМ-2008 2008, 2008, 00, 00, 127, .213
    229. Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Функция отклика полупроводникового детектора отраженных электронов в РЭМ РЭМ-2008 2008, 2008, 00, 00, 93, .211
    230. Евстафьева Е.Н., Милеев В.Н., Новиков Л.С., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Электронно-зондовые методы исследования процессов зарядки диэлектриков ЭСУ-2008 2008, 2008, 00, 00, .240
    231. Болотина А.В., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Ягола А.Г. - Энергетические спектры обратнорассеянных электронов от массивных твердотельных мишеней Вестник МГУ. Сер.3. Физика. Астрономия., 2009, 00, 05, 30-32, .253
    232. Зубехин С.А., Климов С.Б., Раховский В.И., Рау Э.И., Юдович Б.Э. - Роль двойной пены в образовании наноструктурированных элементов субмикроструктуры пенобетона ДАН, 2009, 429, 05, 636–639, .257
    233. Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Глубина пробега первичных электронов, размытие электронного пучка и пространственное разрешение в электронно-зондовых исследованиях Изв. РАН, сер. физич., 2009, 73, 04, 463-472, .243
    234. Lukyanov F.A., Orlikovsky N.A., Rau E.I., Sennov R.A. - Combined electron-beam method of the diagnostic of 3D-microelectronic structures in scanning electron microscopy ICMNE-2009 2009, 2009, 00, 00, O3-19, .254
    235. Милеев В.Н., Новиков Л.С., Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Татаринцев А.А. - Моделирование зарядки диэлектрических мишеней под воздействием электронного облучения X Межвузовская научная школа молодых специалистов 2009, 2009, 00, 00, 259-264, .255
    236. Новиков Л.С., Милеев В.Н., Маклецов А.А., Синолиц В.В., Рау Э.И., Евстафьева Е.Н., Дицман С.А., Сеннов Р.А. - Роль вторично-эмиссионных процессов в радиационном заряжении диэлектриков в условиях космического простанства Радиационная физика твердого тела-2009 2009, 2009, 00, 00, 567, .260
    237. Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Сяо Линь, Ху Веньго - Особенности зарядки диэлектрических пленок при электронном облучении РЭМ-2009 2009, 2009, 00, 00, 129, .247
    238. Бузынин А.Н., Калинушкин В.П., Рау Э.И., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А. - Исследование характеристик матриц фотоприемников на основе Si Pt:Si с помощью метода наведенного потенциала РЭМ-2009 2009, 2009, 00, 00, 169, .248
    239. Еременко В.Г., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И. - Изучение электрической активности протяженных дефектов в Si методом электронно-индуцированного потенциала РЭМ-2009 2009, 2009, 00, 00, 174, .249
    240. Гостев А.В., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Ху Веньго - Диагностические возможности при параллельном детектировании энергетически отфильтрованных отраженных электронов и электронно-индуцированных потенциалов в РЭМ РЭМ-2009 2009, 2009, 00, 00, 89, .246
    241. Александров А.Ф., Евстафьева Е.Н., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Исследование возможностей электронной томографии для обеспечения глубинной метрологии многослойных наноструктур Седьмая Международная Конференция по ВТ и ФИ 2009, 2009, 02, 00, 83, .245
    242. Гостев А.В., Дицман С.А., Дюков В.Г., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Определение средней энергии отраженных электронов в зависимости от угла их выхода Изв. РАН, сер. физич., 2010, 74, 07, 1010-1019, .264
    243. Евстафьева Е.Н., Плиес Э., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Татаринцев А.А., Фрейнкман Б.Г. - Методические аспекты электронно-зондовых исследований процессов зарядки диэлектрических мишеней Изв. РАН, сер. физич., 2010, 74, 07, 1020-1028, .263
    244. Бузынин А.Н., Калинушкин В.П., Рау Э.И., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А. - Исследование характеристик матриц фотоприемников на основе Si Pt:Si с помощью метода наведенного потенциала Изв. РАН, сер. физич., 2010, 74, 07, 1061-1064, .265
    245. Александров А.Ф., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Электронно-зондовая неразрушающая бесконтактная диагностика приборных структур микроэлектроники Микроэлектроника, 2010, 39, 05, 327-336, .273
    246. Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Милеев В.Н., Новиков Л.С., Дицман С.А., Сеннов Р.А. - Анализ механизмов зарядки диэлектрических мишеней под воздействием электронного облучения Перспективные материалы, 2010, 00, 04, 11-20, .277
    247. Гостев А.В., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Метод и аппаратура электронной микротомографии в сканирующей электронной микроскопии ПТЭ, 2010, 00, 04, 124-134, .266
    248. Кузьмин Р.Н., Мискинова Н.А., Швилкин Б.Н., Макарова А.П., Зубенко В.В., Телегина И.В., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Электрический взрыв металлических проводников Ломоносовские чтения 2010, 2010, 00, 00, 65, .261
    249. Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Татаринцев А.А., Фрейнкман Б.Г. - Уточнение представлений о механизме зарядки диэлектрических мишеней РЭМ-2010 2010, 2010, 00, 00, 101, .268
    250. Еременко В.Г., Орликовский Н.А., Рау Э.И. - Электронно-индуцированный потенциал в РЭМ. Особенности изучения электрической активности протяженных дефектов в Si РЭМ-2010 2010, 2010, 00, 00, 102, .269
    251. Зайцев С.И., Кошев Н.А., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Якимов Е.Б. - Прямое измерение диаметра и распределения плотности тока в кроссовере электронного зонда РЭМ-2010 2010, 2010, 00, 00, 103-104, .270
    252. Рау Э.И. - Метод и аппаратура электронной микротомографии в РЭМ РЭМ-2010 2010, 2010, 00, 00, 124, .271
    253. Гостев А.В., Дицман С.А., Дюков В.Г., Иванова Е.С., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Исследование зависимости энергии отраженных электронов от угла их выхода РЭМ-2010 2010, 2010, 00, 00, 95, .267
    254. Кошев Н.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Ягола А.Г. - Решение обратной задачи восстановления сигнала электронного микроскопа в режиме отраженных электронов на множестве функций ограниченной вариации Выч. методы и программ., 2011, 12, 00, 362-367, .283
    255. Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Якимов Е.Б., Зайцев С.И. - Усовершенствованный метод измерения диаметра и распределения плотности тока в кроссовере электронного зонда Зав.лаб., 2011, 77, 03, 39-42, .279
    256. Кошев Н.А., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Ягола А.Г. - Повышение пространственного разрешения в режиме отраженных электронов в сканирующей электронной микроскопии Изв. РАН, сер. физич., 2011, 75, 09, 1248-1251, .280
    257. Орликовский Н.А., Рау Э.И. - Контраст изображений в режиме детектирования отраженных электронов в сканирующей электронной микроскопии и микротомографии Изв. РАН, сер. физич., 2011, 75, 09, 1305-1311, .281
    258. Бузынин А.Н., Лукьянов А.Е., Лукьянов Ф.А., Рау Э.И. - СВЧ-РЭМ-методом наведенного тока Изв. РАН, сер. физич., 2011, 75, 09, 1312-1314, .282
    259. Рау Э.И., Гостев А.В., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Татаринцев А.А., Трубицын А.В. - Электронно-зондовый томографический комплекс на базе РЭМ для диагностики микро- и наноструктур Hi-Tech 2011, 2011, 00, 00, 285, .314
    260. Orlikovsky N.A., Rau E.I., Tatarintsev A.A. - Electron-beam diagnostics microtomography and spectroscopy of microelectronics device structures MNE-2011 2011, 2011, 00, 00, 77, .308
    261. Бузынин А.Н., Калинушкин В.П., Уваров О.В., Рау Э.И., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Золотарев В.И. - Исследование характеристик фоточувствительных элементов матриц фотоприемников на основе Si Pt:Si методом наведенного потенциала и просвечивающей электронной микроскопии РЭМ-2011 2011, 2011, 00, 00, 38, .311
    262. Гостев А.В., Дицман С.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Угловые характеристики средней энергии отраженных электронов для массивных и пленочных мишеней РЭМ-2011 2011, 2011, 00, 00, 42, .309
    263. Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А. - Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ РЭМ-2011 2011, 2011, 00, 00, 43, .310
    264. Орликовский Н.А., Рау Э.И. - О контрасте изображений в режиме отраженных электронов в РЭМ РЭМ-2011 2011, 2011, 00, 00, 60, .306
    265. Рау Э.И., Татаринцев А.А. - О взаимосвязи основных параметров зарядки массивных и пленочных диэлектриков при электронном облучении РЭМ-2011 2011, 2011, 00, 00, 64, .307
    266. Кошев Н.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Ягола А.Г. - Восстановление энергетических спектров отраженных электронов с учетом аппаратной функции спектрометра Изв. РАН, сер. физич., 2012, 76, 09, 1096, .296
    267. Рау Э.И., Татаринцев А.А. - Контраст изображений локально заряженных диэлектриков в растровой электронной микроскопии Поверхность, 2012, 00, 11, 47, .294
    268. Рау Э.И., Орликовский Н.А., Иванова Е.С. - Функция отклика и оптимальная конфигурация полупроводниковых детекторов отраженных электронов для сканирующих электронных микроскопов ФТП, 2012, 46, 06, 829, .295
    269. Rau E.I., Orlikovsky N.A., Ditsman S.A., Zaitsev S.V. - The angular dependences of average energy of backscattered electrons and optimal configuration of BSE detectors in SEM EMC-2012 2012, 2012, 00, 00, 101, .300
    270. Rau E.I., Evstafjeva E.N., Tatarintsev A.A. - The reason of distinction of experimental values of dielectrics electron-beam charging times EMC-2012 2012, 2012, 00, 00, 103, .304
    271. Rau E.I., Gostev A.V., Orlikovsky N.A. - The modified toroidal electron spectrometer for microtomography and spectroscopy in SEM EMC-2012 2012, 2012, 00, 00, 97, .305
    272. Orlikovsky N.A., Rau E.I., Tagachenkov A.M., Vasyuk I.P. - An improved detection of locally doped semiconductor regions with the scanning electron microscope ICMNE-2012 2012, 2012, 00, 00, P1-57, .301
    273. Evstafjeva E.N., Knjazev M.A., Rau E.I., Svintsov A.A., Tatarintsev A.A., Zaitsev S.I. - The charging of PMMA-film resist in electron beam lithography ICMNE-2012 2012, 2012, 00, 00, Р2-25, .298
    274. Гостев А.В., Кошев Н.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И. - Аппаратная функция тороидального спектрометра РЭМ и ее влияние на спектры детектируемых электронов РЭМ-2012 2012, 2012, 00, 00, 177, .303
    275. Бузынин А.Н., Калинушкин В.П., Уваров О.В., Рау Э.И., Дицман С.А., Лукьянов Ф.А., Золотарев В.И., Лыткин А.П. - Исследование характеристик фоточувствительных элементов матриц фотоприемников на основе Si Pt:Si с помощью метода наведенного потенциала и просвечивающей электронной микроскопии РЭМ-2012 2012, 2012, 00, 00, 267, .297
    276. Дицман С.А., Зайцев С.В., Лукьянов А.Е., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Рогов О.А. - Средняя и полная энергия отраженных электронов и контраст изображений в РЭМ в зависимости от угла детектирования РЭМ-2012 2012, 2012, 00, 00, 275, .299
    277. Евстафьева Е.Н., Князев М.Н., Рау Э.И., Татаринцев А.А. - Сравнение методов измерения высоковольтных локальных потенциалов заряженных диэлектриков - электронноспектроскопического и порогового рентгеновского излучения РЭМ-2012 2012, 2012, 00, 00, 276, .302
    278. Бычков В.Л., Жарик Г.А., Низовцев В.В., Орликовский Н.А., Осокин А.С., Рау Э.И., Татаринцев А.А. - О взаимодействии шаровой молнии со стеклом ХТЯХЭиШМ 2012, 2012, 00, 00, 30, .316
    279. Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Татаринцев А.А. - Объяснение некоторых противоречий в трактовке динамики зарядки диэлектрических мишеней под воздействием электронного облучения Вестник МГУ. Сер.3. Физика. Астрономия., 2013, 00, 02, 34, .286
    280. Гостев А.В., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Трубицын А.А. - Усовершенствование электронного тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа и его новые применения в диагностике структур микро- и наноэлектроники ЖТФ, 2013, 83, 03, 140, .289
    281. Рау Э.И., Тагаченков А.М. - Контраст изображений примесных областей в полупроводниковых кристаллах в растровом электронном микроскопе Изв. РАН, сер. физич., 2013, 77, 08, 1041-1046, .317
    282. Рау Э.И., Дицман С.А., Зайцев С.В., Лермонтов Н.В., Лукьянов А.Е., Купреенко С.Ю. - Анализ формул для расчета основных характеристик отраженных электронов и сравнение с экспериментальными результатами Изв. РАН, сер. физич., 2013, 77, 08, 1050, .287
    283. Рау Э.И., Евстафьева Е.Н., Зайцев С.И., Князев М.А., Свинцов А.А. , Татаринцев А.А. - Комплексные исследования эффектов зарядки полимерного резиста (ПММА) при электронной литографии Микроэлектроника, 2013, 42, 02, 116, .288
    284. Дицман С.А., Зайцев С.В., Лукьянов А.Е., Рау Э.И. - Выражения для основных характеристик обратнорассеянных электронов РЭМ-2013 2013, 2013, 00, 00, 100, .292
    285. Князев М.А., Рау Э.И., Свинцов А.А., Татаринцев А.А., Зайцев С.И. - Отклонение электронного пучка, вызванное зарядкой диэлектрических пленок на проводящей подложке РЭМ-2013 2013, 2013, 00, 00, 116, .293
    286. Гостев А.В., Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Татаринцев А.А. - Возможные причины противоречий в определении некоторых параметров зарядки диэлектрических мишеней РЭМ-2013 2013, 2013, 00, 00, 88, .291
    287. Евстафьева Е.Н., Зайцев С.В., Рау Э.И., Татаринцев А.А. - Зависимость потенциала зарядки диэлектриков и изолированных проводников от угла падения пучка электронов Вестник МГУ. Сер.3. Физика. Астрономия., 2014, 00, 01, 56-60, .318